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基于USB的LVDS信号传输误码率测试系统

A bit error rate measurement system for LVDS signal transmission based on USB interface

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【作者】 李超； 梁昊； 薛俊东； 陈一新； 刘强； 金革； 虞孝麒； 周永钊；

【Author】 LI Chao, LIANG Hao, XUE Jun-dong, CHEN Yi-xin, LIU Qiang, JIN Ge, YU Xiao-qi, ZHOU Yong-zhao(Dept of Modern Physics, USTC, Hefei of Anhui Prov. 230027 , China)

【机构】 中国科学技术大学近代物理系； 中国科学技术大学近代物理系 安徽 合肥 230027； 安徽 合肥 230027； 安徽 合肥 230027；

【摘要】 给出了一个利用USB2.0接口,两台PC机和百兆网线组成的LVDS信号传输误码率测试系统。该系统使用了随机数据源,测量了LVDS信号在30m传输距离,平均速率21.078Mbit/s条件下的误码率。给出了相应的测量图表和LVDS信号传输误码率的测量结果。该结果符合BESⅢμ子鉴别器的读出电子学系统设计要求。

【Abstract】 A BER (Bit Error Rate ) measurement system for LVDS signal transmission, which consists of USB interface and two computers and net cable, is introduced. A pseudo-random data source is used in this system. The system measured the BER of LVDS signal in the case of 30 m distance and average transmission frequency of 21. 078 Mbit/s. The measurement results are shown in plot and table. The results indicate that LVDS signal satisfies the requirement of BES Ⅲ ’s muon electronical readout system.

【关键词】 误码率； LVDS； USB； TCP；
【Key words】 bit error rate measurement； LVDS； USB； TCP；
  • 【文献出处】 核电子学与探测技术 ,Nuclear Electronics & Detection Technology , 编辑部邮箱 ,2004年06期
  • 【分类号】TP393.06
  • 【被引频次】5
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