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MBE生长InGaAs/In0.32≤x≤0.52Al1-xAs MM-HEMT材料

Growth of InGaAs /In 0.32≤x≤0.52Al1-xAs MM-HEMTs materials by MBE

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【作者】 邱凯张晓娟陈建炉

【Author】 QIU Kai,ZHANG Xiao-juan,CHEN Jian-lu (Nanjing Electronic Devices Institute,Nanjing210016,China)

【机构】 南京电子器件研究所南京电子器件研究所 江苏南京210016江苏南京210016江苏南京210016

【摘要】 在GaAs衬底上利用分子束外延技术生长了不同In组分的MetamorphicHEMT(简称MM-HEMT)。通过对MM-HEMT材料中台阶式缓冲层材料种类、台阶宽度、初始组分以及生长温度等生长参数、生长条件和结构参数进行优化,得到了具有良好电学性能的MM-HEMT材料,其二维电子气迁移率和浓度指标与国外同期水平相当。

【Abstract】 MM-HEMTs (short for metamorphic HEMTs )with different In contents on GaAs sub-strates have been grown by MBE.Good electrical properties of the materials for MM-HEMTs were gained through optimizing the graded buffer layers,step width,initial composition,the data of the growth temperature and structure as well as the growth conditions.The2DEG and concentra-tion of the materials correspond to the abroad level at the same period.

【关键词】 高电子迁移率晶体管分子束外延缓冲层
【Key words】 HEMTMBEbuffer
  • 【文献出处】 微纳电子技术 ,Micronanoelectronic Technology , 编辑部邮箱 ,2003年06期
  • 【分类号】TN304
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】70
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