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基于单片机的不良导体热导率的测定

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【作者】 李建设； 柳闻鹃；

【机构】 株洲工学院计算机系； 株洲工学院基础课部；

【摘要】 介绍了在稳态法测不良导体热导率中,基于单片机系统进行数据采集、显示、存贮及温度控制的方法。

【关键词】 单片机； 不良导体； 热导率；
  • 【文献出处】 中国包装工业 ,China Packaging Industry , 编辑部邮箱 ,2002年07期
  • 【分类号】TP368.1
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