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低温离子渗硫层相结构的研究
Study on Phase Structure in Low-temperature Ion Sulphurized Layer
【摘要】 采用X射线光电子能谱 (XPS)对低温离子渗硫层的相结构进行了研究。结果表明 ,炉气中的氧是渗硫层中存在FeSO4 和FeSO3 的主要因素。用CS2 蒸气作渗硫气源可避免在渗硫层中出现FeSO4 和FeSO3 ,渗硫层中FeS和FeS2 的相对量与炉气压力有关。在最佳工艺参数条件下 ,可获得单一的FeS层
【Abstract】 Phase structure of low temperature ion sulphurized layer was tested by means of XPS.The results show that oxygen in furnace atmosphere is main factor which existing FeSO 4 and FeSO 3 in sulphurized layer.The FeSO 4 and FeSO 3 could be avoided by use CS 2 vapour.The amount ratio of FeS and FeS 2 in sulphurized layer is related to pressure of furnace atmosphere.Under the condition of optimum technological parameters the single FeS layer can be obtained.
【关键词】 离子渗硫;
相结构;
X射线光电子能谱(XPS);
【Key words】 ion suphurizing; phase structure; X ray photo electron spectrometry(XPS);
【Key words】 ion suphurizing; phase structure; X ray photo electron spectrometry(XPS);
- 【文献出处】 金属热处理 ,Heat Treatment of Metals , 编辑部邮箱 ,2002年02期
- 【分类号】TG156.8
- 【被引频次】7
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