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超导双面膜T_c与J_c的无损测量系统

NON-DESTRUCTIVE DETERMINATION SYSTEM OF CRITICAL PARAMETERS OF DOUBLE-SIDED HTSC THIN FILMS

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【作者】 李顺洲； 孙永伟； 何艾生； 董世迎； 王小平； 何豫生；

【Author】 Li Shun zhou\+\{1,2\}\ \ Sun Yong wei\+1\ \ Dong Shi ying\+1 He Ai sheng\+\{1,3\}\ \ Wang Xiao ping\+4\ \ He Yu Sheng\+1 \ \+1Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing\ 100080 \ \+2Institute of Acoustics, Chinese Academy of Scien

【机构】 中国科学院物理所； 北京有色金属研究总院； 中国科学院物理所 北京100080 中国科学院声学所； 北京100080； 北京100080 北方工业大学 北京100041； 北京100088； 北京100080；

【摘要】 利用高温超导体磁屏蔽原理研制了一种双面超导薄膜的临界参数无损测量系统 .该系统有 2 9个传感器 ,可以无损地测出双面薄膜中的任一面的临界参数 (Tc、Jc)值 .该系统用液氮冷却 .可测量最大薄膜直径为 75mm .全系统由计算机实现自动控制 .

【Abstract】 With the development of HTSC double sided films, a simple, fast, and nondestructive determination system for the quality of the films is necessary. In this paper, a new type of equipment to determine critical parameters of HTSC double sided films by using magnetic shielding principle is introduced. This equipment can determine both T\-c and J\-c of 30 points on double sided films with diameters less than 75mm(or 50mm). The determination is non destructive and computer controlled.

【关键词】 无损测量； J_c； T_c； 高温超导体； 超导薄膜； 临界参数； 计算机实现； 失超； 可测量； 超导膜；
  • 【文献出处】 低温物理学报 ,Chinese Journal of Low Temperature Physics , 编辑部邮箱 ,2002年02期
  • 【分类号】O514
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】50
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