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薄膜磁阻效应计算机控制自动测试方法的研究

Research on film magnetic-resistance effect measured automatically by computer control

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【作者】 崔甲武； 赵志国； 张绍武；

【Author】 CUI Jia wu\+1, ZHAO Zhi guo\+2, ZHANG Shao wu\+3 (1.Physics Department of Nanyang Teacher College, Nanyang 473061, China; 2.Physics Department of Luoyang Teacher College, Luoyang 471022, China; 3.Institute of Applied Physics Henan Academy of Scien

【机构】 南阳师范学院物理系!河南南阳473061； 洛阳师范学院物理系!河南洛阳461022； 河南省科学院应用物理研究所!河南郑州450008；

【摘要】 采用单片机 80 31来模拟三角波输出而产生超低频扫场电源 ,用四探针、六探针测量法 ,实现对薄膜磁阻效应的自动测试

【Abstract】 The ultralow frequency scanning field power supply is obtained by chip microprocessors 8031 simulating triangular wave output. The thin film magnetic resistance effect is measured automatically by four probes and six probes measure methods.

【关键词】 薄膜磁阻效应； 探针； 单片机；
【Key words】 thin film magnetic resistance effect； probe； chip microprocessors；
【基金】 河南省教委自然科学基础研究项目!(2 0 0 0 140 0 0 8)
  • 【文献出处】 河南科学 ,Henan Science , 编辑部邮箱 ,2001年02期
  • 【分类号】TP273.5
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】40
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