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紫外-近红外光谱响应测量分析系统

A Measuring and Analyzing System for Spectral Response Ranging from Ultraviolet to Near-infrared Band

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【作者】 王成福； 韩杰； 徐汉成；

【Author】 Wang Chengfu (Department of Electronic Engineering,Jinhua College of Vocation & Technology,Jinhua,321017) Han Jie (Department of Information & Electronic Engineering,Zhejiang University, Hangzhou,310027) Xu Hancheng (Nanjing Electr

【机构】 金华职业技术学院电子工程系!金华； 321017； 浙江大学信电系!杭州； 310027； 南京电子器件研究所!南京； 210016；

【摘要】 简述了一种比传统测试方法具有更高精度的紫外 -近红外光谱响应测量分析系统。分析了系统的硬件构成及软件设计过程 ,并给出了实验测量结果。

【Abstract】 In this paper, we introduce and analyze the hardware constitution and software design of the optical spectral response measuring and analyzing system which has higher measuring accuracy than traditional ones. The measuring results are given, too.

【关键词】 光谱响应； 测量； 分析系统；
【Key words】 spectral response； measurement； analytical system；
  • 【文献出处】 光电子技术 ,Optoelecfronic Technology , 编辑部邮箱 ,2001年01期
  • 【分类号】TN219
  • 【被引频次】4
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