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高温超导薄膜微波表面电阻测试方法

A Measurement Method of Microwave Surface Resistance of Large Area High Tc Super-conductive Thin Films

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【作者】 张映敏罗正祥羊恺张其劭

【Author】 Zhang Yingmin Luo Zhengxiang Yang Kai Zhang Qishao (Microwave Testing Center, UEST of China Chengdu 610054)

【机构】 电子科技大学微波测试中心电子科技大学微波测试中心 成都610054成都610054成都610054

【摘要】 介绍一种工作在12 GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻sR测试系统,该系统采用低损耗高介电常数的蓝宝石构成工作在TE011+δ谐振模式的介质谐振器,在77 K时,利用它对高温超导薄膜的微波表面电阻sR进行测试,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于单片φ50.8 mm较大超导薄膜的无损伤测试,整个测试系统体积小、操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,具有简便、快捷、适合于工业化生产检测的特点。

【Abstract】 The surface resistance sR of a single piece of high Tc super-conductive thin film can be measured by a sapphire resonator with d+TE011mode non-destructivity, at 77K. By measuring the value of the resonator抯 quality factor, the microwave surface resistance sR of testing sample can be also determined. A new measuring method is presented, and the surface resistance can be calculated. To measure ?0.8mm high Tc super-conductive thin film, a special sapphire resonator working at 12GHz is made and used. The method has advantages of non-destructivity, single sample,high Q value, high sensitivity, convenient experiment setup, small volume, and flexibility in operation.

【基金】 国家超导中心研究基金资助项目
  • 【文献出处】 电子科技大学学报 ,Journal of University of Electronic Science and Technology of China , 编辑部邮箱 ,2001年06期
  • 【分类号】TM26
  • 【被引频次】12
  • 【下载频次】170
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