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基于比值采样原理实现半导体温度电阻的测量

Measurement of semiconductor resistor based on ratio sampling system

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【作者】 江修； 经亚枝； 张焕春；

【Author】 Jiang Xiu, Jing Yazhi, Zhang Huanchun (Nanjing University of Aeronautics & Astronautics, Nanjing 2l0016, China)

【机构】 南京航空航天大学自动化学院测试工程系； 南京航空航天大学自动化学院测试工程系 南京 210016； 南京 210016； 南京 210016；

【摘要】 介绍一种采用比值采样测量半导体温度电阻的测量方法。由于采用比值采样技术，在不提高元件性能的前提下，大大提高了测量温度的准确度。

【Abstract】 A method is presented for measuring semiconductor resistor using ratio sampling tech- niques. By using technology of ratio sampling system, with out improving components capabilities, the measuremen tprecision can be improved.

【关键词】 比值采样； 半导体电阻； 电压/频率转换； 恒流源；
【Key words】 ratio sampling； semiconductor resistor； voltage to frequency convert； adjustable current sources；
  • 【文献出处】 电测与仪表 ,Electrical Measurement & Instrumentation , 编辑部邮箱 ,2001年05期
  • 【分类号】TP212
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】64
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