【作者】 刘惠哲； 魏金铠； 马晓梅；
【机构】 河北省职工医学院附属医院!071000； 河北省职工医学院附属医院!071000；
【摘要】 目的：探讨高热惊厥患儿的脑电图特点及其规律性变化。方法：反复检查患儿发热期与恢复期脑电图及其双亲脑电图。结果：患儿高热惊厥脑电图异常率以初次发作者低，反复发作者高。结论：高惊厥有一定遗传倾向。更多还原
