【作者】 李季平； 吴启元； 刘小廷； 蔡云良；
【机构】 南京航空航天大学理学院!210016；
【摘要】 提出用迈克尔孙干涉仪等密度等倾干涉条纹法测定透明介质（玻璃、薄膜等）的厚度和折射率的方法．实验证明，这种方法是正确、有效和简便的．更多还原
