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粗糙表面及界面的理论表征

Theoretical Exposed Characteristics of Surface and Interface Roughness

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【作者】 万小军

【Author】 WAN Xiao-jun (Department of Information Engineering, Hunan Urban Construction College, Yiyang 413000, China)

【机构】 湖南城建高等专科学校信息工程系!湖南益阳413000

【摘要】 分形理论可以用于表征表面的粗糙程度.与其它常规的方法相比,例如均方根粗糙度,有许多长处.这一描述并不依赖于实验仪器的分辨率并且具有标度不变性.分形理论用于描述薄膜的表面或界面粗糙程度,可以提供许多有用的关于薄膜生长机理的线索.

【Abstract】 Multifractal theory is applied to the exposed characteristics of the surface roughness.Comparing to other methods, for example, normal rms roughness, it has many advangages.The description is not depended on the resolution of experiment.When multifractal theory is applied to the surface and interface roughness of thin films, it can provide some very useful clues to the growth mechanism of thin films.

【关键词】 粗糙度分辨率分形理论界面
【Key words】 roughnessresolutionmultifractal theoryinterface
  • 【文献出处】 湖南城建高等专科学校学报 ,Journal of Hunan Urban Constructin College , 编辑部邮箱 ,2000年04期
  • 【分类号】O485
  • 【被引频次】5
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