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有源矩阵液晶显示器的缺陷检测

Study on Defect Test of Active Matrix Liquid Crystal Display

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【作者】 葛长军； 成建波； 杨开愚；

【Author】 Ge Changjun,Cheng Jianbo,Yang Kaiyu (Dept.of Opto Electronic Technology,UEST of China,Chengdu 610054)

【机构】 电子科技大学光电子技术系；

【摘要】 分析了ＶＧＡ有源矩阵液晶显示器的缺陷分类、产生原因。研制出了有源矩阵液晶显示器的断路测试板、短路测试板以及全板显示测试板。

【Abstract】 The defect classification and the reason forming defect of VGA thin film transistor active matrix liquid crystal displays are analysed.Open tester,short tester and display tester are developed.

【关键词】 有源矩阵液晶显示； 缺陷； 测试板；
【Key words】 Active matrix liquid crystal display Defect Tester；
  • 【文献出处】 半导体技术 ,SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,1999年02期
  • 【分类号】TN873.930.6
  • 【被引频次】2
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