【作者】 余慧； 谢铁邦； 刘晓军；
【机构】 华中理工大学机械学院；
【摘要】 本文介绍了基于光聚焦探测法的表面粗糙度非接触测量系统。该系统特别适合于接触测量易引起表面损害的软材料，如橡胶、纸张、磁带；硬材料，如硬金属、陶瓷；以及软材料覆盖表面，如磁盘等。更多还原
