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可变频率时钟发生器及其测试技术

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【作者】 李国机； 王文光；

【机构】 上海冶金所微电子分部!上海200233；

【摘要】 本文介绍可变频率时钟发生器的逻辑结构、测试技术及编程。

【关键词】 可变频率时钟发生器； 逻辑结构； 测试技术；
  • 【文献出处】 微处理机 ,Microprocessors , 编辑部邮箱 ,1996年01期
  • 【分类号】TP331
  • 【下载频次】36
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