【作者】 张中元； 林兆荣； 王文平； 黄卫东；
【机构】 南京航空航天大学；
【摘要】 本文在扩散焊接过程界面孔洞收缩数值分析的基础上，进一步对界面动态再结晶和晶粒长大，以及位错攀移和蒸发－凝结机理对扩散焊接的作用进行了分析，结果表明，界面动态再结晶对扩散焊接有较大影响，而位错攀移和蒸发－凝结机理的影响不明显。利用该模型确定的工艺参数，在ＴＣ４和ＴＣ１２的扩散焊接实验和产品研制中获得了令人满意的结果，减少了试验次数，提高了成品合格率。更多还原
