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用线性码构造伪穷尽测试集

Generation of Pseudoexhaustive Test Pattern Set with Linear Codes

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【作者】 邵建华； 童家榕； 唐璞山；

【Author】 Shao Jianhua ;Tong Jiarong and Tang Pushan(CAD Lab,Dept.of Electronic Engineering, Fudan University,Shanghai 200433)

【机构】 复旦大学电子工程系ＣＡＤ室；

【摘要】 在本文中，我们给出了一种用线性码构造伪穷尽测试集的测试码生成方法。这种方法在减小测试时间方面较以往的方法又进了一步。实验结果表明这种方法是完全可取的。

【Abstract】 An approach to generate pseudoexhaustive test pattern set using linear codes is pre- sented in the paper.In this technique,test time is reduced,compared to previous ones.Experimen- tal results show that the method introduced is preferable.

【关键词】 集成电路测试； 内建自测试； 测试码生成； 线性码；
【Key words】 IC test； Built-in self-test； Test pattern generation； Linear code；
  • 【文献出处】 微电子学 ,MICROELECTRONICS , 编辑部邮箱 ,1995年03期
  • 【分类号】TN407
  • 【下载频次】23
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