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国产静电模拟器的研制和使用

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【作者】 薛仁经；

【机构】 航天工业总公司五○二所 北京； 100080；

【摘要】 提高各种微电子器件的抗静电水平关系到军用电子整机的固有可靠性和应用可靠性,已到了刻不容缓的地步。我们在“七专”高可靠CMOS器件抗静电攻关中研制成功“静电模拟器”,基本上达到MIL—STD—3015.3的要求。本文主要论述了静电测试的难点、静电损坏器件的情况;静电模拟器的设计要求和具体方案;继电器的抖动以及静电模拟器的实用情况等。

【关键词】 微电子器件； 静电现象； 固有可靠性； 七专； 水平关系； 电子整机； 版图设计； 击穿电压； 放电波形； 电容放电；
  • 【文献出处】 电子产品可靠性与环境试验 ,Electronic Product Reliability and Environmental Testing , 编辑部邮箱 ,1995年02期
  • 【分类号】TN406
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