节点文献
功率器件的二次击穿无损坏测试技术
Nondestructive Test Technique for Second Breakdown of Power Devices
【摘要】 通过对功率晶体管二次击穿机理的分析和安全工作区的划分,提出了可行的无损坏二次击穿测试技术和无损坏二次击穿测试电路.该技术也适用于其他有二次击穿问题的器件。更多还原
-
【文献出处】
电力电子技术
,POWER ELECTRONICS
,
编辑部邮箱
,1995年01期
-
【分类号】TN606
-
【被引频次】3
-
【下载频次】100