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电路穷尽测试的线性反馈移位寄存器系列

Exhaustive Test of Linear Feedback Shift Register Circuits

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【作者】 邵建华童家榕章开和唐璞山

【Author】 Shao Jianhua;Tong Jiarong;Zhang Kaihe and Tang Pushan(Dept Electronic Engineer. Fudan University, Shanghai,200433)

【机构】 复旦大学电子工程系CAD室

【摘要】 本文介绍了在Galois域GF(2)上线性反馈移位寄存器的链接原理,并给出了一种高级数的线性反馈移位寄存器如何由低级数线性反馈移位寄存器构成的方法,以满足对具有不同输入端数目电路测试的要求。初步的实验结果表明,从8至24级的线性反馈移位寄存器都可以由1至7级的线性反馈移位寄存器链接构成。

【Abstract】 The linking principle of linear feedback shift registers(LFSR’s)on GF(2)in Galois domain is described in the paper.To meet the test requirement,for circuits with different input ports,a technique has been developed to compose high-degree LFSR’s with lower-degree LFSR’s. Results from initial experiments show that an 8~24 degree LFSR can be formed by linking 1~7 degree LFSR’s.

  • 【文献出处】 微电子学 ,MICROELECTRONICS , 编辑部邮箱 ,1994年05期
  • 【分类号】TP332.11
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