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提高CCD尺寸测量分辨力探讨

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【作者】 张文阁；

【机构】 华北工学院；

【摘要】 本文提出了另一种解调测量法信号处理方法,理论上分析了欠阻尼的二阶低通网络近似理想解调函数的上翘特性,以提高CCD解调测量的尺寸分辨力,并分析了电路实现步骤。

【关键词】 尺寸测量； CCD； 分辨力； 上翘； 电荷耦合器件； 边缘特征； 欠阻尼； 二阶低通滤波器； 频率特性； 理想解；
  • 【文献出处】 测试技术学报 ,Journal of Test and Measurement Technology , 编辑部邮箱 ,1994年S1期
  • 【分类号】TN386.5
  • 【被引频次】4
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