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网带炉网带的失效分析

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【作者】 魏馥铭; 朱雅年; 符仁钰;

【机构】 上海工业大学;

【摘要】 烧结用网带炉网带的使用寿命较短,通过金相、X 射线衍射和电子探针分析,网带失效的主要原因是高温 O、C、S 等元素的侵蚀作用。

【关键词】 网带; 成分组织结构分析; 腐蚀;
  • 【文献出处】 理化检验.物理分册 ,Physical Testing and Chemical Analysis (Part A:Physical Testing) , 编辑部邮箱 ,1992年02期
  • 【分类号】TG115
  • 【被引频次】2
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