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质子和~4He离子激发金和铋产生的LX射线的相对强度

Au and Bi L-X-ray relative intensities induced by protons and ~4He-ions

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【作者】 徐君权； 许浔江；

【Author】 Xu Junquan Xu Xunjiang(Shanghai Institute of Nuclear Research, Academia Sinica, Shanghai 201800)

【机构】 中国科学院上海原子核研究所； 中国科学院上海原子核研究所 上海 201800； 上海 201800；

【摘要】 利用ECPSSR电离理论和新获得的L次亮层荧光产额等,计算了质子和~4He离子激发Au和Bi所产生的LX射线相对强度。质子能量为0.18—10MeV,~4He离子能量为1.0—4.0MeV。计算结果和报道的实验测量符合得很好。没有发现L次壳层偶合效应。

【Abstract】 Using the ECPSSR ionization theory and L-subshell fluorescence yields, the relative intensities of LX-rays induced by 0.18-10MeV protons impact on gold and 1.0-4.0 MeV 4He-ions impact on bismuth have been calculated. The results are in good agreement with experimental measurements reported. The L-subshell coupling effects are not found.

【关键词】 电离截面； LX射线； L次壳层荧光产额；
【Key words】 Ionization cross section L X-ray L-subshell fluorescence yield；
【基金】 国家自然科学基金
  • 【文献出处】 核技术 ,Nuclear Techniques , 编辑部邮箱 ,1992年02期
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