【作者】 姜菊生； 姚鸿生；
【机构】 浙江大学； 浙江大学；
【摘要】 <正> 人们研究微裂纹的方法都是对已加工的Si片表面进行必要的处理,然后才能在显微镜下观察。对Si片表面进行处理不仅繁锁,而且容易失真,也极易失败,即看不到微裂纹。本文介绍一种极为方便而且不失真的研究微裂纹的方法,克服了传统的研究微裂纹的不足之处。更多还原
