【作者】 祁增芳; 余剑平;
【机构】 南开大学电子科学系; 南开大学电子科学系;
【摘要】 本文着重研究了Si3N4/SiO2、Ta2O5/SiO2、Ta2O5/Si3N4/SiO2、Ta2O5/NAS/Si3N4/SiO2等多层介质结构H+-ISFET传感器的特性,给出了实验结果,并做了必要的分析讨论。更多还原