【作者】 孙慧妤; 王文义; 陈桂林; 李东升;
【机构】 阿城电站设备自动化设计研究所; 哈尔滨工业大学;
【摘要】 <正> 为了迅速提高我国机电产品的质量和可靠性,以增强在国际市场上的竞争能力,我们对国产某型号继电器进行了可靠性寿命试验,并就这些寿命数据进行了统计分析。在既不知道失效分布类型又不知道分布参数的情况下,我们采用新方法——模糊识别法来更多还原