【作者】 张金生; 邱竹贤;
【机构】 东北工学院; 东北工学院;
【摘要】 本文采用晶体光学法,在偏光显微镜下系统研究了铝电解质各纯组份:NaF、AlF8、Na3AlF6、Al2O3、LiF、MgF2、CaF2、Na5Al3F14的光学性质及显微特性,并论讨了晶体光学法进行铝电解质综合分析鉴定的基本程序。更多还原