【作者】 游俊富；
【机构】 上海市测试技术研究所；
【摘要】 介绍了用CAMECA SMI-300型离子探针对钢铁、矿石、耐火材料进行微区、微量分析和深度分析方法。作者在实验中摸索出了测定不导电或导电不佳的平面状、颗粒状、粉末状样品的方法和消除样品表面氧化效应的方法。还报道了作者得到的部分有用结果及分析中存在的问题。更多还原
