【作者】 周明； 廖向东；
【机构】 西南技术物理所； 西南技术物理所；
【摘要】 本文阐述一种测量透明介质薄膜光学参数及其折射率色散的新方法。它籍助于p,s分量透过率光谱的测量,从T_p,T_s求出n,d及n(λ)。最后,本文还给出了模拟测量结果并讨论其误差特性。更多还原
