高聚物晶体的电子辐照损伤

【摘要】 <正> 电子显微镜是研究高聚物晶体结构的有效工具。但是由于高聚物对电子辐照极为敏感。在电镜中的电子束照射下,高聚物晶体的结构极易发生变化。尤其是将高分辨电子显微术用于高聚物结构的研究中,电子辐照损伤的影响更为突出。本工作利用选区电子衍射和高分辨电子显微术,研究了随电子辐照剂量的增加,PPTA和[Ge(Pc)O]n两种高聚物结构的损伤过程。随着电子辐照剂量的增加,PPTA纤维样品电子衍射斑点的强度逐渐减弱,直至完全消失。图1显示了这一变化过程。测量了总终点辐照量(TEPD)及各衍射斑点的终点辐照量(EPD)。结果表明,影响衍射斑点消失先后次序的因素主要是斑点的指数顺序和斑点强度。测量了加速电压对耐辐照剂量的影响,当更多还原