【作者】 郑鹏洲；
【机构】 航天部半导体器件失效分析中心；
【摘要】 <正> 中国电子学会可靠性与质量管理学会第四届年会于九月二十五日至三十日在广州举行。中、美、日等国二百余位可靠性与质量管理工作者参加了大会。大会宣读了近一百篇论文,并组织了几个可靠性专题讨论会。为加强我国整机和元器件抗辐射可靠性研究,经上级机关指示和批准,决定成立可靠性抗更多还原
