【作者】 张景园； 周海天； 杨箭； 李琼如；
【机构】 中国科学院中国科技大学研究生院； 中国科学院中国科技大学研究生院；
【摘要】 <正> 本文报告利用多光子电离方法测量的由于Mg-Ar碰撞和Mg-Ar碰撞引起的Mg基态到Rydberg态双光子跃迁线的频移与加宽。更多还原
