【作者】 于晓惠； 黄金芳；
【机构】 北京医科大学口腔医学院； 北京医科大学口腔医学院；
【摘要】 <正> 颅面部硬组织的X线头影测量技术创立于三十年代,已成为研究颅颌面骨骼结构形态、生长发育及错(牙合)机制分析的重要手段。自五十年代末起,不少学者致力于软组织侧貌的X 线头影测量研究,使其成为与硬组织X线头影测量几乎同等重要的研究手段及临床分析方法。在错(牙合)矫治的临床实践中,软组织外形及更多还原
