【作者】 司承才； 季华美； 朱龙源；
【机构】 中国科学院上海技术物理研究所； 中国科学院上海技术物理研究所；
【摘要】 <正> 我们采用透射光谱方法对Hg1-（?）CdxTe材料进行分类,用此方法,不仅可以确定材料的组份,而且可以判定材料组分的均匀性。通过测量不同温度下的透射光谱,并根据透射光谱随温度的变化趋势,可判定材料的质量,这种方法无损伤,且比其它方法更为有效。更多还原
