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微光斑尺寸测试技术

Submicron Spot Size Measuring Technique

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【作者】 陈垦; 刘立明; 沈冠群; 黄宣劭; 蔡康泽; 俞三程;

【Author】 Chen Ken Liu Liming Sheng Guanqun Huang Xuanzhao Cai Kangze Yu Sanchen (Shanghai Institute of Laser Technology)

【机构】 上海市激光技术研究所; 上海市激光技术研究所;

【摘要】 光盘录刻系统的一个重要参数是系统的最小可能焦斑尺寸。本文描述一种测量亚微米级焦斑的方便而精确的测量技术。测试装置包括对焦及微调机构;刀口/光检测器扫描部分和光栅读数刀口定位部分。

【Abstract】 The size of the smallest possible focused spot is one important system parameter ofoptical disc recording system.This paper describes a convenient and accurate technique for measuringthe submicron spot.The measuring apparatus consists of three subsystems:(a)focused spot findingand adjusting system;(b)scanning knife-edge/photodetector system;(e)optical 4 dividing gratingsystem which provides a metric for the knife-edge displacement.

  • 【文献出处】 应用激光 ,Applied Laser , 编辑部邮箱 ,1985年01期
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