多元合金组份测定的一种新方法——X射线荧光光谱比值计算法

【摘要】 <正>近几年来,随着仪器的进步和分析技术的发展,X射线荧光光谱滤纸片法在合金薄膜、合金主成份、环保样品及稀土等的测定中得到广泛地应用.在合金主成份的测定中,以往均采用加入内标法以消除制样误差和仪器波动对测量的影响.由于加入内标元素不易选择或选择不当等原因,都会给方法的建立带来困难.为此,本文在文献[4]的基础上,以Nb-Ti-Ta三元合金为例提出了多元合金组份测定的新方法—比值计算法.该法的基本想法是,对于任何一个多组份体系的薄试样,例如滤纸片试样或合金薄膜固体试样等,如果选定其中一个组份作为内标元素,那末其他组份与选定的内标元素之间的含量比是固定不变的.根据薄试样中元素间的含量比与其强度比之间的线性关系,以及含量归一化条件(试样中杂质含量忽略不计),建立起联立更多还原