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TP80—LSI测试系统

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【作者】 费开明； 吴鹰； 刘军；

【机构】 北京工业大学； 北京工业大学；

【摘要】 <正> 一、引言用计算机控制的LSI测试系统,已经有较多的使用。然而,大多数这样的系统,是面向LSI制造厂家或微计算机系统制造厂家的。表1列出了国外三类LSI测试系统的一些技术数据。

【关键词】 测试系统； LSI； TP80； 微计算机系统； 用计算机控制； 功能测试； 控制部件； 测试程序； 功能块； 系统控制程序；
  • 【文献出处】 电子测量技术 ,Electronic Measurement Technology , 编辑部邮箱 ,1984年01期
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