【作者】 沈卓身； 徐金堃； 张小娥； 李虎；
【机构】 北京钢铁学院； 电子工业部五所； 电子工业部五所；
【摘要】 <正>半导体器件镀金可伐合金外引线的腐蚀断裂是一个亟待解决的问题.对此国内外开展过不少研究工作,一方面研究其腐蚀机构,另一方面针对失效原因,寻求解决的办法.我们认为这个问题是非常复杂的,因素是多方面的,更多还原
