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退火对铌酸锂晶体电光性能的影响

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【摘要】 铌酸锂晶体加工过程中产生的内应力使其变为双轴晶,并引起电光感应轴的偏离。本文分析了感应轴偏离对组合调制器性能的影响.应用退火工艺可以消除铌酸锂晶体感应轴的偏离,提高了组合调制器的电光性能。

  • 【文献出处】 应用激光 ,Applied Laser , 编辑部邮箱 ,1983年01期
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