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容错64K动态随机存储器

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【作者】 Ronald.P Cenker； 房振华；

【机构】 贝尔实验室；

【摘要】 <正> 64K动态随机存储器设计要考虑的几个主要问题是:(1)与16K产品的相容性;(2)提供足够强度的读出信号,(3)电流峰值与平均值降到最低;(4)可高成品率制备。本文讨论了上述诸因素的影响,存储器结构以及电路设计等问题。

【关键词】 动态随机存储器； 存储器结构； 列译码器； 电流峰值； 读出放大器； 存储单元； 芯片尺寸； 存储器芯片； 电路设计； 芯片封装；
  • 【文献出处】 微电子学 ,Microelectronics , 编辑部邮箱 ,1983年03期
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