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保温瓶瓶胆银层厚度测量

Measuring the Silver-Film Thickness of Vacuum Flasks

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【作者】 沈国华； 潘星龙； 杨锡良； 高龙关； 方兴平； 周恩光；

【Author】 Shen Guo-hua Pan Xing-long Yang xi-liang Gao Long-yuan (Fu-dan University)Fang Xing-ping Zhou En-guang (Gnang-hua Glass Factory, Wn-hu)

【机构】 复旦大学； 芜湖光华玻璃厂； 芜湖光华玻璃厂；

【摘要】 研制成一种利用涡流原理测量银层厚度的仪器。探讨了若干实际测量保温瓶瓶胆银层厚度时出现的问题。

【Abstract】 An instrument for measuring the thickness of silverfllms on the principle of eddy current has been developed. Some practical problems arising from the measuring process of the silver-films of vacuum flasks are discussed.

【关键词】 厚度测量； 涡电流； 无损测量； 间接测量； 指示值； 厚度分布； 石棉粒； 可见光范围； 相对厚度； 电路原理；
  • 【文献出处】 玻璃与搪瓷 ,Glass & Enamel , 编辑部邮箱 ,1983年05期
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