【作者】 刘树杞； 郑银甲；
【机构】 成都电讯工程学院； 成都电讯工程学院 研究生；
【摘要】 本文描述了自聚焦透镜的一种检查方法,用来测定光纤和自聚焦透镜的端面质量,同时可测定光纤的数值孔径(NA)。该方法简单易于操作,适用于设备较小的条件下使用。更多还原
