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Nb3Ge超导薄膜分析

ANALYSIS OF Nb3Ge SUPERCONDUCTING THIN FILM

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【作者】 郭照斌;

【Author】 Guo Zhaobin(Institute of Physics, Academia. Sinica)

【机构】 中国科学院物理研究所;

【摘要】 <正> 一、引言 Nb3Ge溅射薄膜是一种较新的超导材料,膜中Nb与Ge的比值对材料的性质有影响.分析Nb、Ge含量有原子吸收法,X-荧光光谱法,电子探针及化学分析法等.文献[3]是在9NHCl中,用CCl4二次萃取Ge与Nb等分离,以消除Nb对苯芴酮(PF)比色Ge的严重干扰.有机相用稀碱溶液反萃Ge,进行比色测定,水相蒸干后,用PAR-酒石

  • 【文献出处】 低温物理 , 编辑部邮箱 ,1982年02期
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