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用电子湮灭方法测位错密度

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【作者】 王振杰； 彭郁卿； 袁鹤令； 王景成；

【机构】 上海原子核研究所； 上海钢铁研究所；

【摘要】 <正> 前言 晶体缺陷的研究目前已经突破范性形变这一传统领域,渗透到金属、固体电磁性能方面,但它的测量方法始终在探讨,主要的常用方法有金相显微镜及X射线法。近年来采用电子显微镜,不仅可测位错密度,且能直接观察缺陷的形态。但存在的共同问题是这些方法均受到试样制备的限制,而且试样表面位错密度与体内有差异,尤其是当缺

【关键词】 位错密度； 晶体缺陷； 试样制备； 范性形变； 射线法； 电磁性能； 金相显微镜； 面心立方结构； 第二相； 测量方法；
  • 【文献出处】 上海钢研 ,Shonghai Steel & Iron Research , 编辑部邮箱 ,1981年01期
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