节点文献

用压电晶体测定痕量的二氧化硫

Measurement of Trace Amounts of Sulfur Dioxide with Piezoelectric Crystal

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具，请取消加速工具后下载。

【作者】 钱君贤； 韩士良； 陈国亮； 朱万森；

【机构】 复旦大学； 复旦大学；

【摘要】 <正> 利用压电晶体测定二氧化硫（SO2）方法的基本原理是:在一个振荡回路中,石英晶片的振荡频率是一定的,但当晶片重量发生变化时,频率也将随之改变。如在晶片上涂一层能吸附SO2的化学物质,当涂层吸附SO2后,就会引起频率下降,且减少的频率与被吸附的气体量呈线性关系。只要涂层对SO2的吸附是可逆的,就能反复进行测定。我们设计了一个压电晶体SO2探测器的实验室测量装置,并对1～14ppm SO2的测定,获得了线性结果,还对进样时间、涂层频率的回复时间、测量数据的精密度、水汽的影响及消除水汽干扰的方法等作了一些研究。

【关键词】 压电晶体； 振荡回路； 实验室测量； 线性关系； 进样时间； 化学物质； 回复时间； 气体量； 渗透管； 气体发生瓶；
  • 【文献出处】 化学世界 ,Huaxue Shijie (Chemical World) , 编辑部邮箱 ,1981年01期
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】18
打印本页
节点文献中：