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一些国产半导体器件失效原因初探

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【作者】 宗珊华；

【机构】 七七一所；

【摘要】 本文就我所在使用现场中失效的一些国产半导体器件的分析.给出了器件的主要失效摸式,并对失效原因作了初步探索,提出了改进意见.

【关键词】 半导体器件； 饱和压降； 原因初探； 失效原因； 铅锡合金； 基区； 接触结构； 输出特性曲线； 半导体元器件； 管壳；
  • 【文献出处】 半导体技术 ,Semiconductor Technology , 编辑部邮箱 ,1980年03期
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