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STM的同胞兄弟——原子力显微镜(AFM)  
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【英文篇名】 A product from the STM——atomic force microscope(AFM)
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【作者】 程敏熙; 熊钰庆;
【英文作者】 CHENG Min xi; XIONG Yu qing (Department of Physics; South China Normal University; Guangzhou; Guangdong; 510631; China);
【作者单位】 华南师范大学物理系;
【文献出处】 大学物理 , COLLEGE PHYSICS, 编辑部邮箱 2000年 09期  
期刊荣誉:ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 原子力显微镜; 扫描隧道显微镜;
【英文关键词】 atomic force microscope; scanning tunneling microscope;
【摘要】 介绍了在扫描隧道显微镜 (STM )基础上发展起来的原子力显微镜 (AFM)的工作原理、关键部分、工作模式及其应用 .
【英文摘要】 An introduction to the principle,key parts,working mode and the application of the atomic force microscope (AFM) which was developed on the base of the scanning tunneling microscope(STM).
【分类号】 TH742
【正文快照】 1 引言原子力显微镜 (AtomicForceMicroscope)是在 1 986年由扫描隧道显微镜 (ScanningTunnelingMicroscope)的发明者之一的葛·宾尼 (GerdBinnig)博士在美国斯坦福大学与C .F .Quate和C .Gerber等?

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