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原子力显微镜在高分子领域的应用  
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【英文篇名】 Applications of Atomic Force Microscopy on Polymer Science
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【作者】 屈小中; 史燚; 金熹高;
【英文作者】 Qu XiaozhongShi YiJin Xigao(Institute of Chemistry; Chinese Academy of Science; Beijing100080);
【作者单位】 中国科学院化学研究所;
【文献出处】 功能高分子学报 , JOURNAL OF FUNCTIONAL POLYMERS, 编辑部邮箱 1999年 02期  
期刊荣誉:中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 原子力显微镜; 高分子; 表面结构形态性能;
【英文关键词】 atomic force microscopy; polymer; surface structure and morphology;
【摘要】 原子力显微镜在其发明不久即应用于高分子领域,弥补了扫描隧道显微镜不能观测非导电样品的缺欠,因而受到重视,应用范围也不断扩展。最近几年,原子力显微镜的应用已由对聚合物表面几何形貌的观测发展到深入研究高分子的纳米级结构和表面性能等新领域,并由此导出了若干新概念和新方法。本文仅对当前原子力显微镜应用于高分子和高分子材料研究的几个重要方面举例进行介绍
【英文摘要】 Atomic Force Microscopy (AFM) has recently become a powerful technique in polymer field owing to its many advantages which make it suitable for application to the surface characterization and the investigation of polymers on nanometer scale without special sample treatment. In this review, some recent advances and applications on polymer nanostructures, morphology and surface properties, such as morphological visualization of phase separation, surface viscoelasticity, condensed state and conductivity of sin...
【基金】 国家科委攀登计划资助项目
【分类号】 O631
【正文快照】 1986年,Binnig、Quate和Gerber发明了第一台原子力显微镜(AFM)〔1〕。AFM可以得到对应于物质表面总电子密度的形貌,解决了扫描隧道显微镜(STM)不能观测非导电样品的缺欠〔2〕。AFM的工作原理是将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定?

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