滤波连接器电容器失效模式研究-中国重要会议论文全文数据库

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滤波连接器电容器失效模式研究

【会议录名称】	中国电子学会第十六届电子元件学术年会论文集 , 2010 年 Proceedings of 16~(th) National Conference on Electronic Components
【作者】	田蔚; 李振;
【作者单位】	贵州航天电器股份有限公司;
【会议名称】	中国电子学会第十六届电子元件学术年会
【英文会议名称】	16~(th) National Conference on Electronic Components
【会议地点】	中国江苏昆山
【主办单位】	中国电子学会元件分会
【学会名称】	中国电子学会元件分会
【关键词】	失效模式; 裂纹; 检验分析; 滤波插座;
【论文摘要】	本文主要研究滤波连接器中使用的滤波电容器失效的各种原因及情况,深入研究了电容器从生产到装配整个过程可能发生失效的因素。引起电容器失效的原因多种多样,电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境各不相同,失效机理也各不一样。电容器的常见失效模式有:介质击穿、开路、电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘电阻下降或漏电流上升等)、表面飞弧等。电容器击穿、开路等使电容器完全失去工作能力的失效属致命性失效,其余一些失效会使电容器不能满足使用要求,并逐渐向致命失效过度,影响系统的可靠性。因此为防止电容器失效,应重点关注电容器的出厂检验和产品生产装配过程的控制。
【更新日期】	2011-08-03

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