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SMD缺陷检测中快速图像匹配算法研究  
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【英文篇名】 ON FAST IMAGE MATCHING ALGORITHM IN SMD DEFECT INSPECTION
【下载频次】 ★★★
【作者】 程良伦; 江伟欢;
【英文作者】 Cheng Lianglun Jiang Weihuan (Faculty of Automation; Guangdong University of Technology; Guangzhou 510006; Guangdong; China);
【作者单位】 广东工业大学自动化学院;
【文献出处】 计算机应用与软件 , Computer Applications and Software, 编辑部邮箱 2010年 11期  
期刊荣誉：中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 归一化互相关; 层叠二分; 图像匹配; 旋转匹配; SMD缺陷检测;
【英文关键词】 Normalized cross-correlation; Stratified-dimidiation; Image matching; Rotation matching; SMD defect inspection;
【摘要】 传统灰度归一化互相关匹配算法存在匹配时间太长及不适合旋转情况匹配的缺点。提出改进的层叠二分互相关匹配算法,通过将图像多次缩小一半后进行粗匹配,再依次返回到缩小之前的图像上进行小范围的精匹配来减小匹配时间;并提出旋转搜索窗口的方法来使算法适合旋转的匹配;通过使用增量法计算互相关值来进一步减小匹配时间;最后研究了改进的算法在SMD缺陷检测中的应用并进行实验测试,结果表明算法能够快速准确检测元件的位置偏移和角度偏转。
【英文摘要】 Traditional grey-normalized cross-correlation matching algorithm has two disadvantages:the matching time is too long and does not be suitable for matching in rotation condition.The improved stratified dimidiate cross-correlation matching algorithm is proposed in the paper. In this algorithm,images are rough-matched first after being lessened to half of original size several times,and then back in turn to previous images to make precise matching in a small search range for reducing matching time.The method o...
【基金】 广东省教育部产学研联合项目(2007A09030271)
【更新日期】 2011-01-18
【分类号】 TP391.41
【正文快照】 0引言根据已知模式的图像在另一幅图像中寻找对应该模式的子图像被称为图像匹配〔’〕。图像匹配是计算机视觉和图像处理中的一个基本问题，在机器视觉、模式识别、航空制导及生物医学等领域有着广泛的应用。Aol检测技术通过光学传感器获取物体的可见图像，是使用计算机对图像?

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